Міжфрагментарна взаємодія у нанокластерних сполуках
DOI:
https://doi.org/10.18372/2073-4751.68.16525Ключові слова:
моделювання, нанокластер, наноелектроніка, вимірюванняАнотація
У роботі запропонована методика яка може бути використана для вимірювання характеристик глибоко субмікронних структур. Цей підхід є корисним для вирішення задач функціональної наноелектроніки. Зокрема, визначає дорожню карту проведення вимірювань на рівні нанотехнологій. Запропоновано розглядати будь-який атомарний кластер, як систему пов’язаних між собою фрагментів. Враховується зміна електронної структури атомарного кластеру. Методика може бути важливою при створенні пристроїв нового покоління.
Посилання
Коvalchuk V., Smorgh M. Metrology of the Real Nanoclusters: Structure and Optical Characteristics. Metrology & Devices. 2020. – №2. – P. 56-60.
Коvalchuk V. Optical Properties of clusters // J. of Physics & Electronics, 2018. – Vol. 26 (1). – P. 29-34
Ковальчук В.В. Нанокластерна модификація гетероструктур. – Одеса: ОДЕКУ: TЕС, 2022. – 226 с .
##submission.downloads##
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
Ліцензія
Науковий журнал дотримується принципів відкритого доступу (Open Access) та забезпечує вільний, негайний і постійний доступ до всіх опублікованих матеріалів без фінансових, технічних або юридичних обмежень для читачів.
Усі статті публікуються у відкритому доступі відповідно до ліцензії Creative Commons Attribution 4.0 International (CC BY 4.0).
Авторські права
Автори, які публікують свої роботи в журналі:
-
зберігають за собою авторські права на свої публікації;
-
надають журналу право на перше опублікування статті;
-
погоджуються на поширення матеріалів за ліцензією CC BY 4.0;
-
мають право повторно використовувати, архівувати та поширювати свої роботи (у тому числі в інституційних та тематичних репозитаріях) за умови посилання на первинну публікацію в журналі.
