Шумовий термометр для непровідних матеріалів

Автор(и)

  • Микола Павлович Василенко Національний університет «Київський авіаційний інститут» https://orcid.org/0000-0003-4937-8082

DOI:

https://doi.org/10.18372/1990-5548.89.21485

Ключові слова:

тепловий шум, термометр, температура, вимірювання, діелектричні матеріали

Анотація

Температура є одним з надзвичайно важливих технологічних параметрів багатьох процесів, оскільки визначає кінетику хімічних реакцій, фазові перетворення речовин, енергетичну ефективність обладнання та безпеку експлуатації як окремих робототехнічних комплексів, так і масштабних комп’ютерно-інтегрованих виробництв загалом. Незважаючи на широку номенклатуру існуючих засобів термометрії, вимірювання температури в реальних промислових умовах часто ускладнюється деструктивним впливом агресивних середовищ, високим рівнем електромагнітних завад, динамічними запізненнями та необхідністю контролю у важкодоступних або рухомих вузлах технологічних систем. Похибки у вимірюванні температури призводять до зниження якості готової продукції, перевитрати енергоресурсів, а в окремих випадках – до аварійних ситуацій. В роботі запропоновано шумовий термометр для непровідних матеріалів. Розроблений прилад дозволяє підвищити точність вимірювання температури шляхом усунення впливу неінформативних шумів та завдяки вдосконаленій обчислювальній обробці корисного сигналу.

Біографія автора

Микола Павлович Василенко , Національний університет «Київський авіаційний інститут»

Кандидат технічних наук

Доцент

Кафедра авіоніки та систем управління

Посилання

[1] G. Machin, M. Sadli, J. Pearce, J. Engert and R. M. Gavioso, “Towards realising the redefined kelvin” Measurement 201, (2022). https://doi.org/10.1016/j.measurement.2022.111725

[2] P. Bramley, D. Cruickshank, and J. Aubrey, “Developments towards an industrial Johnson noise thermometer,” Meas. Sci. Technol., 31 054003, 2020. https://doi.org/10.1088/1361-6501/ab58a6

[3] G. Ridgard et al., “Voltage noise thermometry in integrated circuits at millikelvin temperatures,” J. Appl. Phys., 137, 245901, 2025. https://doi.org/10.1063/5.0268728

[4] Qu J. F., Benz S. P., Rogalla H., Tew W. L., White D. R. and Zhou K. L. “Johnson noise thermometry Meas,” Sci. Technol, 30, pp. 1–26. 2019. https://doi.org/10.1088/1361-6501/ab3526.

[5] A. Casey, et al., “Current sensing noise thermometry: A fast practical solution to low temperature measurement,” J. Low Temp. Phys., 175 (5), 764–775, 2014. https://doi.org/10.1007/s10909-014-1147-z

[6] A. Kirste at al., “Comparison of Different Johnson Noise Thermometers From Millikelvin Down to Microkelvin Temperatures,” JPS Conf. Proc., 011198, 2023. https://doi.org/10.7566/JPSCP.38.011198

[7] T. Nguyen, A. Tavakoli, S. Triqueneaux, R. Swami, A. Ruhtinas, J. Gradel, P. Garcia-Campos, K. Hasselbach, A. Frydman, B. Piot et al., “Niobium nitride thin films for very low temperature resistive thermometry,” J. Low Temp. Phys., 197, 348–356, 2019. https://doi.org/10.1007/s10909-019-02222-6.

[8] T. J. Quinn, Temperature, Academic Press, London, 2nd ed., 1990.

[9] L. Michalski, K Eckersdorf, J. Kucharski, and J. McGhee, Temperature Measurement, Wiley, New York, 2nd ed., 2001. https://doi.org/10.1002/0470846135

[10] Z. M. Zhang and G. Machin, "Overview of radiation thermometry," Experimental Methods in the Physical Sciences, vol. 42, pp. 1–28. 2009. https://doi.org/10.1016/S1079-4042(09)04201-5.

[11] A. Van Der Ziel, Noise in Measurements, JohnWiley & Sons, 1976, 239 p.

Downloads

Опубліковано

2026-09-18

Як цитувати

Василенко , М. П. (2026). Шумовий термометр для непровідних матеріалів. Електроніка та системи управління, 3(89), 140–144. https://doi.org/10.18372/1990-5548.89.21485

Номер

Том 3 № 89 (2026)

Розділ

ЕЛЕКТРОНІКА, ЕЛЕКТРОННІ КОМУНІКАЦІЇ, ПРИЛАДОБУДУВАННЯ ТА РАДІОТЕХНІКА

Ліцензія

Авторське право (c) 2026 Микола Павлович Василенко

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Науковий журнал "Електроніка та системи управління" дотримується принципів відкритого доступу (Open Access) та забезпечує вільний, негайний і постійний доступ до всіх опублікованих матеріалів без фінансових, технічних або юридичних обмежень для читачів.

Усі статті публікуються у відкритому доступі відповідно до ліцензії Creative Commons Attribution 4.0 International (CC BY 4.0).

Авторські права

Автори, які публікують свої роботи в журналі ""Електроніка та системи управління":

  • зберігають за собою авторські права на свої публікації;

  • надають журналу право на перше опублікування статті;

  • погоджуються на поширення матеріалів за ліцензією CC BY 4.0;

  • мають право повторно використовувати, архівувати та поширювати свої роботи (у тому числі в інституційних та тематичних репозитаріях) за умови посилання на первинну публікацію в журналі.