ЗМЕНШЕННЯ РОЗСІЮВАНОЇ ПОТУЖНОСТІ ПРИ ПРОЕКТУВАННІ ЕЛЕКТРОННИХ ПРИСТРОЇВ НА ОСНОВІ КМОН-ТЕХНОЛОГІЇ

Authors

  • Є.В. Красовська

DOI:

https://doi.org/10.18372/2073-4751.4.583

Abstract

 Наведено класифікацію джерел розсіюваної потужності і доведено, що для традиційних КМОН-технологій велику частку розсіюваної потужності, становить динамічна; подані основні методи, що дозволяють зменшити величину розсіюваної потужності при проектування КМОН ВІС

References

Roy К., Prasad S.С. Low power CMOS VLSI circuit design. – New York: John Wiley and Sons, Inc., 2000.

Мурашко И.А. Методы минимизации энергопотребления при самотестировании цифровых устройств: Моногра-фія / И. А. Мурашко, В. Н. Ярмолик. – Минск: Бестпринт, 2004. – 198 c.

Yeap G.P. Practical low power digital VLSI design, Kluwer Academic Publisher, 1998.

Белоус А.И., Мурашко И.А., Сякерский В.С. Методи минимизации энергопотребления при проектировании КМОП БИС. – C. 39–44.

Downloads

Published

2012-06-23

How to Cite

Красовська, Є. (2012). ЗМЕНШЕННЯ РОЗСІЮВАНОЇ ПОТУЖНОСТІ ПРИ ПРОЕКТУВАННІ ЕЛЕКТРОННИХ ПРИСТРОЇВ НА ОСНОВІ КМОН-ТЕХНОЛОГІЇ. Problems of Informatization and Management, 4(28), 81–87. https://doi.org/10.18372/2073-4751.4.583

Issue

Vol. 4 No. 28 (2009)

Section

Статті

License

The scientific journal adheres to the principles of Open Access and provides free, immediate, and permanent access to all published materials without financial, technical, or legal barriers for readers.

All articles are published in Open Access under the Creative Commons Attribution 4.0 International (CC BY 4.0) license.

Copyright

Authors who publish their works in the journal:

  • retain the copyright to their publications;

  • grant the journal the right of first publication of the article;

  • agree to the distribution of their materials under the CC BY 4.0 license;

  • have the right to reuse, archive, and distribute their works (including in institutional and subject repositories), provided that proper reference is made to the original publication in the journal.